外延PbZr0.4Ti0.6O3薄膜厚度对其铁电性能的影响

• 作者: 刘保亭 王英龙 邓泽超 魏同茹
• 来源期刊: 物理学报
• 学科: 化学
• 关键词: 铁电薄膜 自发极化强度 电滞回线 位错
• 年，卷（期）: 2007,（5）
• 所属期刊栏目: 凝聚物质:电子结构、电学、磁学和光学性质
• 页码范围: 2931-2936
• 页数: 6页
• 分类号: O6
• 字数: 3402字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-3290.2007.05.078

摘要

从Landau-Devonshire唯象理论出发,考虑到晶格失配导致的刃位错应力场与极化场的耦合,研究了在SrTiO3衬底上外延生长的PnZr0.4Ti0.6O3薄膜厚度对其自发极化强度、电滞回线的影响.结果表明,产生刃位错的PbZr0.4Ti0.6O3薄膜临界厚度为-1.27 nm,当薄膜厚度大于临界厚度时,在所形成的位错附近,极化强度出现急剧变化,形成自发极化强度明显减弱的"死层";随着薄膜厚度的减小,位错间距增大,"死层"厚度与薄膜总厚度之比增加.由薄膜电滞回线的变化情况可知,其剩余极化强度随着薄膜厚度的减小而逐渐减小.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘保亭	河北大学物理科学与技术学院	84	302	10.0	13.0
2	邓泽超	河北大学物理科学与技术学院	48	123	6.0	8.0
3	王英龙	河北大学物理科学与技术学院	96	301	9.0	12.0
4	魏同茹	河北大学物理科学与技术学院	5	15	2.0	3.0