模拟VLSI电路故障诊断的相关分析法

• 作者: 谢永乐
• 来源期刊: 半导体学报
• 学科: 工学
• 关键词: 模拟电路测试 故障诊断 子带滤波 余弦调制
• 年，卷（期）: 2007,（12）
• 所属期刊栏目: 研究论文
• 页码范围: 1999-2005
• 页数: 7页
• 分类号: TN47
• 字数: 4529字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-4177.2007.12.028

摘要

为了提高模拟VLSI电路的测试精度,提出了一种基于数字信号处理的模拟VLSI电路测试方法.将测试响应经余弦调制实现的数字滤波器组完成子带滤波,随后对各子带滤波序列进行能量计算和相关分析,实现模拟响应的数字特征提取.对国际标准电路中的19个故障的实验表明:子带滤波序列的能量计算适合诊断硬故障;相关分析既可诊断硬故障,又可诊断软故障.实验还表明该方法对故障的分辨率远高于文献[7].

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	谢永乐	电子科技大学自动化工程学院	73	549	12.0	20.0