AMR磁栅尺磁头输出波形的半次谐波现象与分析

• 作者: 刘亚东 朱逢吾 李希胜 王立锦
• 来源期刊: 传感技术学报
• 学科: 工学
• 关键词: 金属薄膜材料 各向异性磁电阻(AMR)效应 磁栅尺 磁头 谐波分析
• 年，卷（期）: 2007,（3）
• 所属期刊栏目: 物理类传感器
• 页码范围: 575-577
• 页数: 3页
• 分类号: TP212|TM271.2
• 字数: 2211字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-1699.2007.03.024

摘要

对采集到的AMR磁栅尺磁头输出波形进行了付里叶谐波分析,发现了波形中的半次谐波现象.对该现象产生的原因以及半次谐波幅度与磁头水平偏角的关系进行了定性分析.磁头水平偏角为零时输出波形不含半次谐波,磁头水平偏角越大,半次谐波幅度就越高;在偏角小于3°的小角度范围内,两者之间基本上是一个线性关系;磁头水平偏角的正负变化会引起半次谐波项正负的变化.结果对正确使用AMR薄膜磁电阻磁头,提高磁栅尺测量系统的精度有指导意义.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	朱逢吾	北京科技大学材料科学与工程学院	54	229	8.0	12.0
2	王立锦	北京科技大学材料科学与工程学院	25	208	9.0	14.0
3	李希胜	北京科技大学信息工程学院	41	343	10.0	17.0
4	刘亚东	北京科技大学材料科学与工程学院	7	42	3.0	6.0