基于VxWorks的逻辑覆盖测试方法

• 作者: 郭洋
• 来源期刊: 电子质量
• 关键词: 嵌入式软件 逻辑覆盖 软件测试
• 年，卷（期）: 2007,（12）
• 所属期刊栏目: 软件测试
• 页码范围: 26-28
• 页数: 3页
• 分类号: TP319
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-0107.2007.12.009

摘要

本文描述了逻辑覆盖测试的基本原理,分析了嵌入式实时软件逻辑覆盖测试的难点,详细介绍了一种可行的基于VxWorks的逻辑覆盖测试方法,可有效应用于对实时性要求较高,硬件资源有限的嵌入式软件测试中.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郭洋		1	4	1.0	1.0