基于边界扫描测试的电路单元测试性设计研究

• 作者: 周曼丽 李桂祥 杨江平
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: 边界扫描 超大规模集成电路 测试性设计
• 年，卷（期）: 2007,（5）
• 所属期刊栏目: 自动化测试
• 页码范围: 587-590
• 页数: 4页
• 分类号: TP274
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1671-4598.2007.05.011

摘要

针对基于边界扫描的超大规模集成电路单元的特点,论述了测试性设计需要重点考虑的一些问题,研究了如何保证经过测试性设计后的电路单元测试最有效的难题;在详细研究电路单元测试性定量和定性指标的基础上,提出了新的测试性评价体系和测试性量化指标;提出新的测试时间度量及测量方法,与以往的方法相比测试方法简单,易于验证;此外,文中还给出了能够获得良好测试性设计效果的边界扫描电路单元的扫描链路设计方案.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李桂祥	空军雷达学院预警探测装备系	31	194	9.0	13.0
2	周曼丽	华中科技大学电子与信息工程系	50	558	14.0	22.0
3	杨江平	华中科技大学电子与信息工程系	6	40	3.0	6.0