膜Zeta电位测试技术研究进展

• 作者: 吴礼光 安全福 汪锰 莫剑雄 高从堦
• 来源期刊: 分析化学
• 学科: 化学
• 关键词: 荷电膜 Zeta电位 流动电位 评述
• 年，卷（期）: 2007,（4）
• 所属期刊栏目: 评述与进展
• 页码范围: 605-610
• 页数: 6页
• 分类号: O65
• 字数: 5342字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-3820.2007.04.032

摘要

分离膜荷电化显著地影响着膜的分离性能和耐污染能力.因此, 定量化表征膜表面(包括孔表面)电性能具有重要的理论价值和实际意义.本文系统地综述了各种膜Zeta电位测定原理、特点及其不足,并展望了膜Zeta电位的未来研究方向.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴礼光		13	161	8.0	12.0
2	高从堦	浙江大学材料与化学工程学院	50	1055	21.0	30.0
4	汪锰	浙江大学材料与化学工程学院	3	52	2.0	3.0
5	安全福	浙江大学材料与化学工程学院	9	75	4.0	8.0
6	莫剑雄		6	59	3.0	6.0