高压电缆瓷套式终端发热原因

• 作者: 王晓兵 罗真海 罗红 肖上林 郭长春 陆国俊
• 来源期刊: 高电压技术
• 学科: 工学
• 关键词: 终端 红外成像 发热 介质损耗 电场计算 水分含量
• 年，卷（期）: 2007,（11）
• 所属期刊栏目: 技术交流
• 页码范围: 240-241,244
• 页数: 3页
• 分类号: TM726.4
• 字数: 1904字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-6520.2007.11.052

摘要

为了及早发现电缆线路的安全隐患,防止事故发生,采用红外热成像仪在线检测了某110 kV高压电缆终端,发现了高压电缆瓷套式终端异常发热的现象,通过一系列的检测和研究试验,查明了终端发热的原因为终端填充的硅油介损过高所致,获得了试验数据,为今后电缆线路在线监测积累了经验.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郭长春		6	22	2.0	4.0
2	王晓兵		7	46	5.0	6.0
3	陆国俊		35	519	14.0	21.0
4	罗真海		3	29	3.0	3.0
5	罗红		4	17	2.0	4.0
6	肖上林		2	12	1.0	2.0