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摘要:
在分析GaAs HFET/PHEMT建模设计、在片校准和测试方法的基础上,提出了电荷守恒的EEHEMT1模型,通过Cold FET测量技术,采用在片测试技术,结合窄脉冲测试技术,提出了GaAsHFET/PHEMT器件EEHEMT1大信号模型,实验说明提出的大信号模型模拟结果与实例结果吻合得很好.
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文献信息
篇名 GaAs HFET/PHEMT大信号建模分析
来源期刊 半导体学报 学科 工学
关键词 砷化镓场效应晶体管 微波集成电路 功率器件模型 测试结构 精确建模
年,卷(期) 2007,(3) 所属期刊栏目 研究论文
研究方向 页码范围 439-443
页数 5页 分类号 TN402
字数 3288字 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:0253-4177.2007.03.023
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 杨瑞霞 河北工业大学信息工程学院 180 759 13.0 18.0
2 杨克武 26 186 6.0 13.0
3 高学邦 38 175 8.0 9.0
4 张书敬 河北工业大学信息工程学院 6 39 4.0 6.0
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研究主题发展历程
节点文献
砷化镓场效应晶体管
微波集成电路
功率器件模型
测试结构
精确建模
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
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期刊影响力
半导体学报(英文版)
月刊
1674-4926
11-5781/TN
大16开
北京912信箱
2-184
1980
eng
出版文献量(篇)
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8
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