数字系统电平敏感扫描设计研究

• 作者: 徐萍 李耕 王凯
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: 数字系统 可测试设计 电平敏感扫描 电子系统
• 年，卷（期）: 2007,（24）
• 所属期刊栏目: 微电子技术
• 页码范围: 200-201,204
• 页数: 3页
• 分类号: TP331.1
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-373X.2007.24.070

摘要

在复杂电子系统中对数字系统工作的可靠性要求越来越高,因此提高数字系统的可测试性变得尤为重要.要提高数字系统的可测性,就需要设计人员在设计系统的同时考虑到测试的要求,目前常采用的方法是结构设计.电平敏感扫描设计在结构设计中使用较为普遍,针对电平敏感扫描设计法进行了研究.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王凯		26	163	6.0	11.0
2	徐萍		9	76	3.0	8.0
3	李耕		4	3	1.0	1.0