基于PC-DMIS的阵列测量

• 作者: 刘兆平 沈璟 黄经元
• 来源期刊: 计量与测试技术
• 学科: 工学
• 关键词: PC-DMIS 阵列 测量
• 年，卷（期）: 2007,（6）
• 所属期刊栏目: 计测技术
• 页码范围: 45-46
• 页数: 2页
• 分类号: TB9
• 字数: 834字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-6941.2007.06.023

摘要

巧妙利用PC-DMIS PR0中提供的阵列功能进行工件的测量,可节省编程时间,大大提高工作效率.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘兆平		26	32	3.0	4.0
2	黄经元		18	41	3.0	6.0
3	沈璟		3	18	2.0	3.0