基于遗传算法的高压长线路双端故障测距研究

• 作者: 刘涤尘 李媛 杜新伟 黄涌
• 来源期刊: 高电压技术
• 学科: 工学
• 关键词: 高压长线路 双端故障测距 遗传算法 群体搜索 伪根 ATP仿真
• 年，卷（期）: 2007,（3）
• 所属期刊栏目: 电网运行与安全
• 页码范围: 21-25
• 页数: 5页
• 分类号: TM711
• 字数: 3780字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-6520.2007.03.005

摘要

为提高高压长线路故障定位的准确度,提出了一种基于遗传算法的故障定位新方法.该方法基于线路分布参数模型,按照故障线路两端沿线向对端推得的故障点电压幅值相等的原则列写故障测距方程,并通过相量法对电压分布函数的单调性进行分析,得到伪根判别法则的数学表达式;引入遗传算法求解故障测距方程,采用群体搜索和多父体重组策略,自适应和容错能力强且能够保证解群搜索的遍历性和快速性;在一次搜索中算法可求得故障距离的多个解,有利于伪根的判别.ATP仿真结果和实际应用证明了该方法不受过渡阻抗、故障类型及不同步角的影响,计算速度快且精确度高.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘涤尘	武汉大学电气工程学院	306	4153	33.0	48.0
2	黄涌		29	365	11.0	18.0
3	李媛	武汉大学电气工程学院	26	241	9.0	15.0
4	杜新伟	武汉大学电气工程学院	13	205	8.0	13.0