密封继电器的故障树分析

• 作者: 梁慧敏 王稚惠 翟国富
• 来源期刊: 低压电器
• 学科: 工学
• 关键词: 密封继电器 故障树分析 故障模式 改进措施
• 年，卷（期）: 2007,（9）
• 所属期刊栏目: 研究与分析
• 页码范围: 9-12
• 页数: 4页
• 分类号: TM581.3|TB114.3
• 字数: 2694字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-5531.2007.09.003

摘要

为从设计上提高密封继电器的可靠性,对其进行了故障树分析.将接触电阻大、绝缘电阻小等主要失效表现形式作为顶事件,然后找出导致这些失效的故障的组合,最终得到基本故障模式,并给出相应的改进措施.分析结果表明,故障树分析对单独的军用元器件可靠性分析有重要作用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	翟国富	哈尔滨工业大学军用电器研究所	280	2576	26.0	34.0
2	梁慧敏	哈尔滨工业大学军用电器研究所	94	589	13.0	18.0
3	王稚惠	哈尔滨工业大学军用电器研究所	1	13	1.0	1.0