浸污法试验不溶物质对绝缘子污闪电压的影响

• 作者: 张志劲 杜辕 胡建林 苑吉河 蒋兴良
• 来源期刊: 高电压技术
• 学科: 工学
• 关键词: 绝缘子 交流 人工污秽试验 不溶物质 灰密 闪络电压
• 年，卷（期）: 2007,（12）
• 所属期刊栏目: 过电压与绝缘
• 页码范围: 19-22
• 页数: 4页
• 分类号: TM852
• 字数: 2661字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-6520.2007.12.005

摘要

绝缘子表面不溶物质的类型和量对其污闪电压有影响,然而在以往人工污秽试验中常忽略这种影响.为此用人工污秽试验研究了不溶物质种类和灰密的影响.试验结果显示:浸污法试验中同一盐度的污液中硅藻土灰度不仅影响绝缘子表面的灰密,且对绝缘子表面的盐密和污闪也有很大的影响,随着硅藻土灰度的增加,绝缘子上盐密增大,其50%闪络电压下降,50%闪络电压与硅藻土灰度呈幂指数关系;同样的盐密下,随着灰密增大,闪络电压减小;不溶物质的种类对污闪电压有影响,不溶物质为高岭土的闪络电压比不溶物质为硅藻土的低.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	蒋兴良	重庆大学高电压与电工新技术教育部重点实验室	218	5355	38.0	64.0
2	张志劲	重庆大学高电压与电工新技术教育部重点实验室	104	2551	29.0	47.0
3	胡建林	重庆大学高电压与电工新技术教育部重点实验室	105	1743	26.0	37.0
4	苑吉河	重庆大学高电压与电工新技术教育部重点实验室	22	766	12.0	22.0
5	杜辕	重庆大学高电压与电工新技术教育部重点实验室	3	65	3.0	3.0