基于PIC单片机控制的RLC智能测量仪

• 作者: 刘芬 杨继生
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: 正交采样 智能识别 在线测量 量程自动转换
• 年，卷（期）: 2007,（15）
• 所属期刊栏目: 数控技术
• 页码范围: 131-132,138
• 页数: 3页
• 分类号: TP29
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-373X.2007.15.044

摘要

为了精确测量分立元件的参数,介绍了一种由PIC单片机控制的RLC智能测量仪.该测量仪利用PIC单片机内置的A/D转换模块对信号进行采样,并采用正交采样算法对数据进行处理从而得出待测元件的参数值.测量结果表明,他具有较高的精度和分辨率,可广泛应用于对元器件参数进行精确测量与分选.与传统的仪表相比,该测量仪还具有智能识别、量程自动转换、在线测量等优点,因此他具有重要的实用价值.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘芬		10	75	4.0	8.0
2	杨继生		3	51	3.0	3.0