腔衰荡光谱技术测量O2禁戒跃迁绝对吸收截面

• 作者: 李炯 杨晓华 王春梅 陈扬骎 龚天林
• 来源期刊: 光学学报
• 学科: 物理学
• 关键词: 光谱学 腔衰荡光谱技术 吸收截面 禁戒跃迁 O2
• 年，卷（期）: 2007,（11）
• 所属期刊栏目: 光谱学
• 页码范围: 2087-2090
• 页数: 4页
• 分类号: O561
• 字数: 3113字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-2239.2007.11.031

摘要

腔衰荡光谱技术(CRDS)不仅具有较高的测量灵敏度,还可对样品的绝对吸收进行测量.采用连续激光腔衰荡光谱技术,通过测量O2分子三重禁戒跃迁b1Σ+g-X3Σ-g(3,0)带RQ(5)谱线(波数17266.090 cm-1)处,极限真空及不同气压下的衰荡时间,利用逼近法得到空腔寿命为2.9174 ms,由此拟合获得其绝对吸收截面为1.4998(±0.0967)×10-26 cm2,与先前的文献估计值一致.由空腔寿命获得的谐振腔高反镜的反射比为99.989(±0.001)%,较通常的测量方法更为精确,该实验条件下的等效吸收程长比几何程长增大了约9090倍.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨晓华	华东师范大学物理系光谱学与波谱学教育部重点实验室	17	67	4.0	7.0
2	陈扬骎	华东师范大学物理系光谱学与波谱学教育部重点实验室	12	35	4.0	5.0
3	龚天林	南通大学理学院	9	22	3.0	4.0
4	王春梅	华东师范大学物理系光谱学与波谱学教育部重点实验室	19	40	4.0	5.0
5	李炯	华东师范大学物理系光谱学与波谱学教育部重点实验室	3	14	2.0	3.0