星用SRAM型FPGA加固设计方法研究

• 作者: 周永彬 季金明 杨俊 邢克飞
• 来源期刊: 电子器件
• 学科: 航空航天
• 关键词: 辐射效应 可靠性 加固设计 SRAM型FPGA
• 年，卷（期）: 2007,（1）
• 页码范围: 202-205,209
• 页数: 5页
• 分类号: V4
• 字数: 2400字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-9490.2007.01.054

摘要

结合实际工程实践,给出了解决常见的FPGA辐射失效问题的一些方法;分析了辐射效应对FPGA综合过程中经常出现的Half-latch的影响,并给出了几种设计时需要考虑的解决方法;最后提出了一种基于低等级FPGA器件的"由顶到底"的星载信号处理平台结构,分析了这种结构在对付辐射效应时的优势.给出的有关大规模可配置电子器件的设计方法可以为航天电子设备的设计提供参考.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨俊		86	803	16.0	24.0
2	周永彬		11	65	5.0	8.0
3	邢克飞		14	92	5.0	9.0
4	季金明		5	60	4.0	5.0