基于变游程编码的测试数据压缩算法

• 作者: 俞洋 彭喜元
• 来源期刊: 电子学报
• 学科: 工学
• 关键词: 变游程编码 测试压缩 测试功耗
• 年，卷（期）: 2007,（2）
• 所属期刊栏目: 学术论文
• 页码范围: 197-201
• 页数: 5页
• 分类号: TP391.76
• 字数: 4361字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0372-2112.2007.02.002

摘要

基于IP核的设计思想推动了SOC设计技术的发展,却使SOC的测试数据成几何级数增长.针对这一问题,本文提出了一种有效的测试数据压缩算法--变游程(Variable-Run-Length)编码算法来减少测试数据量、降低测试成本.该算法编码时同时考虑游程0和游程1两种游程,大大减小了测试数据中长度较短游程的数量,提高了编码效率.理论分析和实验数据表明,变游程编码能取得较同类编码算法更高的压缩效率,能够显著减少测试时间、降低测试功耗和测试成本.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	俞洋	哈尔滨工业大学自动化测试与控制系	24	285	9.0	16.0
2	彭喜元	哈尔滨工业大学自动化测试与控制系	106	2018	25.0	40.0