近阈值下He原子的双电子电离实验中出射电子研究

• 作者: A. Dorn J. Ullrich M. Dürr 曹士娉 马新文
• 来源期刊: 物理学报
• 学科: 物理学
• 关键词: 近阈值He原子的双电离 反应显微成像谱仪 电子入射电离
• 年，卷（期）: 2007,（11）
• 所属期刊栏目: 原子和分子物理学
• 页码范围: 6386-6392
• 页数: 7页
• 分类号: O56
• 字数: 5038字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-3290.2007.11.037

摘要

利用适用于低能电子入射的反应显微成像谱仪,对电子入射He原子近阈值下的双电离过程进行了研究,实验测量了反应后3个粒子的全部动量,获得了出射电子间的关联信息.主要介绍近阈值下的双电离实验装置及实验技术,集中分析反应后出射电子的动量能量关系,对描述近阈值双电离的Wannier理论进行了检验,发现在入射电子能量为106 eV时,实验结果具有Wannier理论预言的性质.