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摘要:
InP基微光机电系统(MOEMS)可调谐器件的梁在实验中常出现弯曲变形的现象,其原因是在生长的时候,As原子进入InP梁,产生了内部梯度应力.使用有限元分析软件,建立了一种无须测量内部应力的模拟梁变形的方法.模拟了单臂梁和双臂梁的弯曲变形情况,理论与实验吻合.研究了As原子浓度和梁厚度对梁变形情况的影响,结果表明降低As原子浓度和增大梁厚度都有助于抑制梁的变形.
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文献信息
篇名 InP基MOEMS可调谐器件的梁变形模拟
来源期刊 半导体学报 学科 工学
关键词 微光机电系统 可调谐 变形 梯度应力
年,卷(期) 2007,(2) 所属期刊栏目 研究论文
研究方向 页码范围 280-283
页数 4页 分类号 TN713
字数 3267字 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:0253-4177.2007.02.027
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 谭满清 中国科学院半导体研究所光电子研究发展中心 24 136 8.0 10.0
2 王青 中国科学院半导体研究所光电子研究发展中心 83 1420 20.0 35.0
3 曹玉莲 中国科学院半导体研究所光电子研究发展中心 15 78 5.0 8.0
4 吴旭明 中国科学院半导体研究所光电子研究发展中心 9 50 3.0 6.0
5 王小东 中国科学院半导体研究所光电子研究发展中心 8 38 4.0 6.0
6 何国荣 中国科学院半导体研究所光电子研究发展中心 10 50 3.0 6.0
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微光机电系统
可调谐
变形
梯度应力
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研究来源
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期刊影响力
半导体学报(英文版)
月刊
1674-4926
11-5781/TN
大16开
北京912信箱
2-184
1980
eng
出版文献量(篇)
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