光圈性能测试系统的总体设计

• 作者: 张琳 魏英智
• 来源期刊: 科技导报
• 学科: 工学
• 关键词: 光圈 性能测试 总体设计 光学耦合系统 图像照度
• 年，卷（期）: 2007,（5）
• 所属期刊栏目: 研究论文
• 页码范围: 53-55
• 页数: 3页
• 分类号: TH741
• 字数: 2155字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-7857.2007.05.012

摘要

系统解决了设定指定光强,以及光强连续变化、目标景像高照度模拟、目标图像高分辨率采集等问题.介绍了光圈性能测试控制系统的硬件组成和功能及软件的结构,对电气控制部分和光学耦合系统的设计进行了详细的讨论.该装置已经通过用户验收,实践表明:各项性能指标均符合要求,使用效果良好且性能稳定可靠.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张琳	黑龙江科技学院数力系	21	95	5.0	9.0
2	魏英智	黑龙江科技学院数力系	15	95	4.0	9.0