基于量子进化算法的时序电路测试生成

• 作者: 李智 范源远 许川佩
• 来源期刊: 科技与创新
• 关键词: 量子进化算法 自动测试生成 时序电路
• 年，卷（期）: 2007,（35）
• 所属期刊栏目: 电子设计
• 页码范围: 290-291,310
• 页数: 3页
• 分类号: TP274|TN407
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1008-0570.2007.35.117

摘要

本文介绍将量子进化算法应用在时序电路测试生成的研究结果.结合时序电路的特点,本文将量子计算中的量子位和叠加态的概念引入传统的测试生成算法中,建立了时序电路的量子进化算法测试生成模型.在国际标准电路上的验证结果表明,与同类算法相比,该算法模型可获得较高的故障覆盖率和较小的测试矢量集.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	许川佩	桂林电子科技大学电子工程学院	124	676	13.0	19.0
2	李智	桂林电子科技大学电子工程学院	123	891	16.0	23.0
3	范源远	桂林电子科技大学电子工程学院	1	2	1.0	1.0