横切窄缝屏蔽双绞线的电磁泄漏

• 作者: 田方 龚中麟
• 来源期刊: 电子与信息学报
• 学科: 工学
• 关键词: 电磁泄漏 屏蔽双绞线 亚网格FDTD方法 混合方法
• 年，卷（期）: 2007,（5）
• 所属期刊栏目: 论文
• 页码范围: 1243-1246
• 页数: 4页
• 分类号: TN811|TM154.1
• 字数: 2495字
• 语种: 中文

摘要

本文对屏蔽层横切窄缝的屏蔽双绞线的电磁泄漏进行了定量研究.分析了切缝屏蔽双绞线的电磁泄漏机制,并把其等效为级联网络.采用混合方法,即传输线链参方法、有限元方法和亚网格FDTD方法相结合,对切缝屏蔽双绞线的电磁泄漏进行了模拟分析.结果表明,在500MHz以下的频率内,即使屏蔽层被切断,屏蔽双绞线泄漏的能量最多不超过1%.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	龚中麟	北京大学信息科学技术学院电子学系	20	184	6.0	13.0
2	田方	北京大学信息科学技术学院电子学系	6	11	2.0	3.0