一种高增益平坦度MMIC功放单片的调试方法

• 作者: 刘训春 张海英 朱旻 梁晓新 郝明丽 陈立强
• 来源期刊: 电子器件
• 学科: 工学
• 关键词: 功放 HBT MMIC
• 年，卷（期）: 2007,（4）
• 页码范围: 1219-1222
• 页数: 4页
• 分类号: TN407
• 字数: 2625字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-9490.2007.04.023

摘要

通过对自主流片的MMIC功率放大器单片的调试,总结出了一套行之有效的MMIC的调试方法.试验结果表明这种将电路仿真和实际测试相结合的方法,有效地减小由于模型和工艺误差带来的电路性能的降低,对于以后MMIC电路特别是功放的电路的调试工作起到了一定指导作用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张海英	中国科学院微电子研究所	114	574	11.0	17.0
2	朱旻	中国科学院微电子研究所	18	38	4.0	4.0
3	刘训春	中国科学院微电子研究所	43	222	9.0	11.0
4	郝明丽	中国科学院微电子研究所	20	65	5.0	6.0
5	陈立强	中国科学院微电子研究所	14	62	4.0	7.0
6	梁晓新	中国科学院微电子研究所	12	46	4.0	6.0