用于存储器测试的"透明"的可编程BIST方法

• 作者: 王颖 陈和
• 来源期刊: 电子测量技术
• 学科: 工学
• 关键词: 存储器 "透明"的可编程内建自测试 算法 故障模型
• 年，卷（期）: 2007,（4）
• 所属期刊栏目: 研究设计
• 页码范围: 5-8
• 页数: 4页
• 分类号: TN407
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-7300.2007.04.002

摘要

本文提出了一种用于存储器测试的新方法:"透明"的可编程BIST方法.该方法可以覆盖几乎所有的故障模型,并且,由于测试生成算法和数据背景的结合,提供了灵活无约束的数据背景,因而增加了检测非模型化故障的可能性.通过实验评估了本文方法的性能和面积开销.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王颖	北京理工大学信息工程学院	40	254	9.0	14.0
2	陈和	北京理工大学信息工程学院	29	104	6.0	9.0