XLPE绝缘老化中的单次放电波形统计分析

• 作者: 成永红 陈小林 黄宏新
• 来源期刊: 高电压技术
• 学科: 工学
• 关键词: 交联聚乙烯 电老化 局部放电 单脉冲 上升沿 下降沿
• 年，卷（期）: 2007,（8）
• 所属期刊栏目: 绝缘检测方法研究
• 页码范围: 10-12,80
• 页数: 4页
• 分类号: TM855|TM835
• 字数: 2047字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-6520.2007.08.003

摘要

为了研究绝缘中发生局部放电的物理机制,对交联聚乙烯(XLPE)绝缘试样进行了加速电老化试验,使用超宽频带局部放电检测系统(频带10 MHz～3 GHz)测量了试样的放电信号,并通过统计分析超宽频带放电的单次脉冲信号探讨了XLPE绝缘老化过程中的放电机理.研究表明,XLPE绝缘电老化过程中单次放电波形的下降沿、脉冲幅值都有显著变化:下降沿从老化前的近15 ns上升到老化50 h的约90 ns,单次放电波形幅值在老化前约1 000 mV,老化15 h后维持在约200 mV,老化到30 h时上升到近500 mV,老化50 h时上升到约600 mV.由单次放电信号的波形特征推断XLPE绝缘老化过程中放电从流注型放电转化为汤姆逊放电的变化过程.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	成永红	西安交通大学电力设备电气绝缘国家重点实验室	78	1073	18.0	27.0
2	陈小林	西安交通大学电力设备电气绝缘国家重点实验室	28	362	12.0	17.0
3	黄宏新	杭州市电力局生产技术处	7	105	5.0	7.0