利用过采样技术提高ADC测量分辨率

• 作者: 刘青兰 方志刚 邵志学
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: 过采样 模/数转换器 数据采集 数字信号处理
• 年，卷（期）: 2007,（12）
• 所属期刊栏目: 嵌入式技术
• 页码范围: 74-76,79
• 页数: 4页
• 分类号: TP274
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-373X.2007.12.026

摘要

针对目前单片机内嵌ADC分辨率较低,而外接高分辨率ADC成本又较高的情况,提出了用"过采样"技术使在有用的测量频带内的信噪比得到改善,从而提高ADC测量的分辨率.并利用Matlab对其结论进行仿真,且在TMS320LF2407 DSP上予以实现,结果表明信噪比和测量分辨率明显提高.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘青兰	解放军理工大学工程兵工程学院	2	42	1.0	2.0
2	方志刚	解放军理工大学工程兵工程学院	3	44	2.0	3.0
3	邵志学	解放军理工大学工程兵工程学院	11	94	4.0	9.0