碳纳米管束中的正电子理论

• 作者: 叶邦角 翁惠民 郗传英 陈祥磊
• 来源期刊: 物理学报
• 学科: 化学
• 关键词: 局域密度近似 单壁碳纳米管 正电子寿命
• 年，卷（期）: 2007,（11）
• 所属期刊栏目: 凝聚物质:电子结构、电学、磁学和光学性质
• 页码范围: 6695-6700
• 页数: 6页
• 分类号: O6
• 字数: 4466字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-3290.2007.11.088

摘要

采用中性原子叠加模型和有限差分方法(SNA-FD)计算了大范围内不同管径的单壁碳纳米管束中的正电子情况,发现对于单壁碳纳米管束,正电子的主要湮没区域,湮没对象和正电子寿命随碳纳米管管径的不同而发生规律性变化.计算得到管径范围在0.8-1.6 nm的碳纳米管束的正电子寿命范围为332-470 ps,与实验测得的394 ps符合较好.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	叶邦角	中国科学技术大学近代物理系	40	166	7.0	12.0
2	翁惠民	中国科学技术大学近代物理系	28	92	5.0	8.0
3	郗传英	中国科学技术大学近代物理系	7	10	2.0	3.0
4	陈祥磊	中国科学技术大学近代物理系	8	12	2.0	3.0