高场强方波电压对聚酰亚胺陷阱参数的影响

• 作者: 何景彦 吴广宁 吴建东 周凯 邓桃
• 来源期刊: 高电压技术
• 学科: 工学
• 关键词: 聚酰亚胺 方波电压 热刺激电流 电导电流 陷阱 活化能
• 年，卷（期）: 2007,（12）
• 所属期刊栏目: 过电压与绝缘
• 页码范围: 27-30
• 页数: 4页
• 分类号: TM85
• 字数: 2176字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-6520.2007.12.007

摘要

变频电机绝缘长期承受高场强方波电压的作用,出现了绝缘过早失效的情况.聚酰亚胺是变频电机中重要的绝缘材料,为了解它不同承受电压形式时其绝缘老化过程和失效机理与传统交、直流电压下存在的很大差异,在高场强方波电压下对聚酰亚胺膜进行电老化,测试了不同老化时间后聚酰亚胺膜的电导电流和热刺激电流(TSC)以分析聚酰亚胺膜活化能和陷阱密度等微观参数的变化规律.结果表明:聚酰亚胺膜TSC曲线可能由2个单峰曲线叠加而成,随着电老化时间的增长,聚酰亚胺膜活化能发生变化,浅陷阱可发展成深陷阱,导致浅陷阱密度逐渐减小,深陷阱密度逐渐增大,总体陷阱密度逐渐增大.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴广宁	西南交通大学电气工程学院	458	6939	39.0	56.0
2	周凯	西南交通大学电气工程学院	22	284	10.0	16.0
3	吴建东	西南交通大学电气工程学院	16	184	8.0	13.0
4	邓桃	西南交通大学电气工程学院	13	130	6.0	11.0
5	何景彦	西南交通大学电气工程学院	14	141	7.0	11.0