面向缺陷的故障模型研究进展

• 作者: 余烨
• 来源期刊: 福建电脑
• 学科: 工学
• 关键词: VLSI 故障模型 缺陷
• 年，卷（期）: 2007,（12）
• 所属期刊栏目: 研究与探讨
• 页码范围: 29-30
• 页数: 2页
• 分类号: TP3
• 字数: 2279字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-2782.2007.12.016

摘要

纳米技术应用下,面向缺陷的故障模型的研究显得日益重要.本文利用诱导故障分析的方法,总结了缺陷和故障模型.研究表明,层次化方法、串话故障及互连线间阻值非零的桥接故障仍需要研究和完善.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	余烨	同济大学计算机科学与技术系	9	16	3.0	3.0