圆环阵列的互耦效应分析

• 作者: 刘海川 宋祖勋
• 来源期刊: 电子测量技术
• 学科: 工学
• 关键词: 互耦 波束赋形 圆环阵列 天线阵综合
• 年，卷（期）: 2007,（6）
• 所属期刊栏目: 测试系统与组件
• 页码范围: 149-152,156
• 页数: 5页
• 分类号: TN821
• 字数: 2666字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-7300.2007.06.044

摘要

互耦效应是阵列天线中确实存在并且影响天线性能的因素,所以互耦效应是阵列天线的分析和设计中必须考虑的因素.本文较为全面地分析了互耦效应对圆环阵列波束赋形的影响,涉及阵列阻抗变化、单元辐射特性变化,以及对馈电网络的影响.为了确定互耦影响下阵列各单元上激励电流分布,本文提出了一种迭代算法.仿真计算结果表明,该迭代算法对圆环阵列是有效的.通过综合考虑互耦对天线阵的各种影响,得到圆环阵列中互耦效应对波束赋形的仿真结果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	宋祖勋	西北工业大学电子信息学院	23	93	5.0	8.0
2	刘海川	西北工业大学电子信息学院	2	16	2.0	2.0