模拟电路可测试性分析模型建立

• 作者: 周恒军 李波 王翔
• 来源期刊: 电子测量技术
• 学科: 工学
• 关键词: DES 可测试性 模型
• 年，卷（期）: 2007,（8）
• 所属期刊栏目: 研究设计
• 页码范围: 34-36,40
• 页数: 4页
• 分类号: TN79
• 字数: 3027字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-7300.2007.08.010

摘要

对机载电子设备做可测试性分析是设计ATS的第一步,只有这样才不会在设计过程中无谓地浪费测试资源.本文通过建立各种不同故障类型模拟电路的可测试性分析模型,论述了利用DES理论建立模拟电路可测试性分析模型的基本方法.对模型分析得到的故障隔离率与实际值相吻合.用DES理论建立的模拟电路可测试性分析模型可以与数字、数模混合电路模型在统一的框架中进行可测试性分析,对电路可测试性分析起到一定的作用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	周恒军		8	5	1.0	1.0
2	李波		5	4	1.0	1.0
3	王翔		1	2	1.0	1.0