TMS320F240DSP片内Flash串行加载及校验技术

• 作者: 崔伟成 杨尧 王民钢
• 来源期刊: 电子测量技术
• 学科: 工学
• 关键词: TMS320F240DSP Flash 串行加载 校验
• 年，卷（期）: 2007,（3）
• 所属期刊栏目: 微处理器应用
• 页码范围: 71-73
• 页数: 3页
• 分类号: TN911.7
• 字数: 2171字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-7300.2007.03.025

摘要

在DSP的实际应用场合中,有时为了内容的加密,不适合留出JTAG口;有时整个设备不宜拆卸,只要留出简单的电路接口对DSP片内Flash进行程序的加载和检验;有时不需重新加载用户程序,而是需要进行程序代码可靠性、正确性校验.基于此,本文提出了串行加载及校验的实验思路,分析了TMS320F240 DSP片内Flash的结构和特点及上电复位运行的特性,阐述了一种基于SCI接口的TMS320F240 DSP片内Flash串行加载及校验技术,详细介绍了该技术的方法、技术难点以及软件实现流程.该技术可在整机状态下完成对DSP片内Flash进行程序加载及程序代码可靠性、正确性校验.实验结果证明该串行加载及校验方法电路简单,加载结果有效且可靠.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王民钢	西北工业大学航天学院	58	351	11.0	14.0
2	杨尧	西北工业大学航天学院	24	211	9.0	13.0
3	崔伟成	西北工业大学航天学院	4	41	4.0	4.0