基于单片机控制的频率特征测试仪设计

• 作者: 许艳
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: 直接数字频率合成 单片机 幅频特性 相频特性
• 年，卷（期）: 2007,（15）
• 所属期刊栏目: 测控技术
• 页码范围: 153-154,163
• 页数: 3页
• 分类号: TP24
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-373X.2007.15.052

摘要

通用的模拟式频率特性测试仪在使用中存在两个问题,一是不能直接得到相频特征,二是不能保存频率特征图.在微处理器控制下,单片机AT89C51与DDS频率合成器构成的频率特性测试仪,他与PC机通过RS 232C口连接.根据这一原理构成的数字式频率特征测试仪,实现了被测网络的频率特性的测试及图形的显示.实验证明,这种单片机控制的数字频率特征测试仪系统体积小、系统稳定、使用简单.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	许艳		18	75	5.0	8.0