基于光切图像处理的表面粗糙度检测系统

• 作者: 全燕鸣 李博 黄镇昌
• 来源期刊: 电子测量技术
• 学科: 工学
• 关键词: 表面粗糙度 光切显微镜 图像处理 虚拟仪器
• 年，卷（期）: 2007,（4）
• 所属期刊栏目: 测试系统与组件
• 页码范围: 184-187
• 页数: 4页
• 分类号: TP274
• 字数: 2639字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-7300.2007.04.055

摘要

以光切法的测量原理为基础,应用传统双管光切显微镜、CCD摄像装置、虚拟仪器及图像处理技术开发了表面粗糙度检测系统.详述了系统的硬件构成原理和核心器件CCD的选用方法;应用虚拟仪器开发平台LabVIEW及其视觉应用功能开发出检测系统的软件程序,运用图像处理技术从光切显微图像中提取出表面轮廓信号计算粗糙度评定参数.该检测系统能够实现表面粗糙度的自动、快速、多参数测量,通过与触针式粗糙度仪进行测量对比实验,论证了该检测系统能达到满意的精度,测量范围是:0.4～40 μm.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	全燕鸣	华南理工大学机械工程学院	81	1046	18.0	29.0
2	黄镇昌	华南理工大学机械工程学院	22	151	8.0	11.0
3	李博	电子科技大学中山学院自动化工程系	20	60	5.0	7.0