窄缝屏蔽耦合的研究

• 作者: 张骅 许家栋 邓云
• 来源期刊: 电子测量技术
• 学科: 工学
• 关键词: 电磁兼容 屏蔽效能 窄缝 磁流
• 年，卷（期）: 2007,（5）
• 所属期刊栏目: 研究设计
• 页码范围: 25-28
• 页数: 4页
• 分类号: TM153.5
• 字数: 2227字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-7300.2007.05.008

摘要

在电子设备的研制过程中,电磁兼容设计成为越来越重要的问题,它将直接影响到系统的工作性能.屏蔽是电磁兼容的重要技术,可以有效地切断干扰源与敏感设备的耦合路径,然而不可避免的孔缝使得屏蔽效能大大降低.复杂孔缝的耦合分析是十分困难的,对于窄缝的耦合,引入Warne-Chen模型利用传输线理论建立了具有厚度和损耗的复杂缝隙耦合方程.分析耦合区域包含导体更加具有实际意义,对于耦合区域包含细导线的情景,本文也作了详细的分析.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	许家栋	西北工业大学电子信息学院	331	2081	18.0	30.0
2	张骅	西北工业大学电子信息学院	9	43	3.0	6.0
3	邓云	西北工业大学电子信息学院	5	32	2.0	5.0