基于SOC测试的IEEE P1500标准

• 作者: 吴宁 张颖
• 来源期刊: 电子测量技术
• 学科: 工学
• 关键词: SOC 测试 P1500
• 年，卷（期）: 2007,（5）
• 所属期刊栏目: 可编程器件应用
• 页码范围: 119-121,141
• 页数: 4页
• 分类号: TN407
• 字数: 3373字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-7300.2007.05.035

摘要

集成电路深亚微米工艺技术和设计技术的迅速发展使得系统芯片SOC的应用越来越广泛,而随着S0c规模的不断扩大,测试问题日益成为制约其技术发展的"瓶颈",其解决的关键是嵌入式核测试的复用.本文介绍了国际上正在制订的嵌入式核测试标准IEEE P1500,该标准旨在规范核测试接口,提高SOC级测试集成的效率.文中给出了嵌入式核测试的体系结构、P1500的主要组成部分--Wrapper结构和核测试语言CTL,以及该标准与其他协议的比较.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴宁	南京航空航天大学信息与技术学院	78	622	12.0	22.0
2	张颖	南京航空航天大学信息与技术学院	53	235	8.0	13.0