基于FPGA的NAND FLASH控制器

• 作者: 刘思平 陈利学
• 来源期刊: 现代电子技术
• 年，卷（期）: 2007,（9）
• 所属期刊栏目: 数控技术
• 页码范围: 134-135
• 页数: 2页
• 分类号: TP273
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-373X.2007.09.051

摘要

主要介绍现场可编程阵列FPGA在NAND FLASH芯片测试仪系统中的应用,由于芯片本身内部结构非常复杂,还可以允许坏块的存在,而且坏块的数目在使用过程中还可以增加,这使得对芯片进行操作变得非常难,而利用FPGA对NAND FLASH进行控制,可以非常方便地对他进行读写、擦除以及坏块判断等几种重要的操作,从而能快捷、准确、稳定地测试出芯片的好坏,为NAND FLASH厂商和用户提供更为准确的判断依据.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈利学	西南石油大学研究生院	38	318	10.0	17.0
2	刘思平	西南石油大学研究生院	1	25	1.0	1.0