基于容栅传感器和单片机的变形检测系统

• 作者: 孙永泉 王振清
• 来源期刊: 科技与创新
• 关键词: 89C52 容栅数显卡尺 信号转换 检测
• 年，卷（期）: 2007,（35）
• 所属期刊栏目: 单片机开发与应用
• 页码范围: 103-104,37
• 页数: 3页
• 分类号: TP2
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1008-0570.2007.35.041

摘要

文章介绍了基于容栅传感器和89C52单片机的位移检测系统的系统组成,重点分析了容栅数显卡尺信号转换原理及软件实现,该系统主要用于对结构的变形进行检测.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王振清	北京航空航天大学材料学院	35	63	5.0	6.0
2	孙永泉	北京航空航天大学材料学院	1	11	1.0	1.0