基于扫描的SoC全速测试及应用

• 作者: 胡晋
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: 片上系统 扫描 全速测试 ARM
• 年，卷（期）: 2007,（8）
• 所属期刊栏目: 测试·封装·材料
• 页码范围: 192-194
• 页数: 3页
• 分类号: TP306
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-373X.2007.08.068

摘要

介绍了在系统级芯片(SoC)测试中所用到的基于扫描结构的全速测试.首先介绍了转换故障模型和路径延迟故障模型,以及测试时采用的具体的两种测试方法,然后总结了一些测试时要注意的事项.最后结合上述理论,对一款基于ARM的自主研发SoC芯片进行了实验,并用时序测试矢量对stuck-at故障进行模拟,减少了测试矢量的个数,节约了测试成本,得到了预期的结果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	胡晋	东南大学集成电路学院	1	4	1.0	1.0