电路故障诊断中探针测试点的筛选算法研究

• 作者: 刘莹 张世德 苏玮 薛立军
• 来源期刊: 科技与创新
• 关键词: 探针测试点 筛选算法 单固定型故障 多固定型故障
• 年，卷（期）: 2007,（31）
• 所属期刊栏目: 故障诊断
• 页码范围: 153-155
• 页数: 3页
• 分类号: TP306+.3
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1008-0570.2007.31.065

摘要

介绍了基于故障字典的电路故障诊断系统设计及故障定位过程.提出了针对固定型故障的简化探针测试点集合的流域覆盖法的思想,在分析单固定型故障和多固定型故障的基础上给出具体的筛选算法,讨论了单故障诊断与多故障诊断的应用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	苏玮	北京联合大学机电学院	23	45	5.0	5.0
2	张世德	北京联合大学机电学院	9	29	3.0	5.0
3	薛立军	北京联合大学机电学院	11	23	3.0	4.0
4	刘莹	北京联合大学机电学院	23	236	7.0	15.0