有效的纹理缺陷检测方法:子带共现矩阵法

• 作者: 李克天 温兆麟 郑德涛 陈新
• 来源期刊: 计算机应用研究
• 关键词: 纹理缺陷分析 共现矩阵 小波滤波器
• 年，卷（期）: 2007,（11）
• 所属期刊栏目: 研究探讨
• 页码范围: 57-59
• 页数: 3页
• 分类号: TP391.41
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-3695.2007.11.016

摘要

提出一种结合小波变换与共现矩阵用于纺织品图像缺陷检测的方法.首先将灰度图像分解成子带;然后将纹理图像分割成互不重叠的子窗口,提取共现特征;最后用无缺陷样品训练的Mahalanobis分类器将每一子窗口划分为缺陷的和无缺陷的.应用该算法进行实际工厂环境中的纺织品缺陷检测.实验结果表明,集中处理具有强判决能力的某一频带提高了检测性能,也改善了计算效率.