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摘要:
根据易损斑块分子标记物正常与否,将68例短暂性脑缺血发作患者分为升高组和正常组,并对其近期预后进行统计分析.结果升高组脑梗死发生率明显高于正常组(P<0.05).提示易损斑块分子标记物升高是脑梗死的重要危险因素之一.
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动脉粥样硬化
易损斑块
正电子发射体层成像
分子成像
多模态成像
内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 易损斑块分子标记物水平与TIA患者
来源期刊 山东医药 学科 医学
关键词 脑缺血发作,短暂性 C反应蛋白 明胶酶B
年,卷(期) 2007,(13) 所属期刊栏目 神经内科专题
研究方向 页码范围 86-87
页数 2页 分类号 R743.31
字数 1899字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1002-266X.2007.13.083
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 徐丽娟 5 17 2.0 4.0
2 刘桂娟 9 46 4.0 6.0
3 胡屹伟 6 27 3.0 5.0
4 马元涛 4 6 2.0 2.0
5 朱炎 1 2 1.0 1.0
传播情况
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引文网络
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研究主题发展历程
节点文献
脑缺血发作,短暂性
C反应蛋白
明胶酶B
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
山东医药
周刊
1002-266X
37-1156/R
大16开
济南市燕东新路6号
24-8
1957
chi
出版文献量(篇)
55362
总下载数(次)
42
总被引数(次)
199298
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