放大电路频率特性的理论和实验分析

• 作者: 张慧敏
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: 频率特性 Multisim2001 频率响应 放大电路
• 年，卷（期）: 2007,（16）
• 所属期刊栏目: 微电子技术
• 页码范围: 166-167
• 页数: 2页
• 分类号: TN722
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-373X.2007.16.055

摘要

频率响应是放大电路的一个重要参数,也是选择电路组态和设计电路的一个重要依据.从理论上分析了影响基本共射放大电路频率特性的参数,并且应用仿真实验平台Multisim2001进行相应的分析验证.实验结果与理论分析相符,即影响基本共射放大电路下限截止频率的主要是射极旁路电容、影响上限截止频率的主要是基-射极之间的结电容.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张慧敏		9	67	4.0	8.0