基于USB2.0的高象素CMOS Sensor疵点检测系统

• 作者: 杨宗立
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: USB2.0 疵点 图像处理 检测
• 年，卷（期）: 2007,（2）
• 所属期刊栏目: 集成电路
• 页码范围: 174-176
• 页数: 3页
• 分类号: TP274+.5
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-373X.2007.02.059

摘要

USB 2.0是新一代的通用串行总线标准,其传输速率高达480 Mb/s,是用于高象素CMOS Sensor疵点检测系统的理想接口.介绍EZ-USB FX2系列芯片,以及高象素CMOS Sensor疵点检测系统的开发研究工作,详细讨论系统硬件、设备固件、驱动程序和主机应用程序的实现方法.最终能准确快速地检测出CMOS Sensor是否合格.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨宗立	苏州大学电子信息学院	1	0	0.0	0.0