电子产品研制阶段可靠性增长试验研究

• 作者: 苏小光 阳红成
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: 电子产品 可靠性增长 可靠性增长试验 AMSAA模型
• 年，卷（期）: 2007,（3）
• 所属期刊栏目: 工控技术
• 页码范围: 140-142
• 页数: 3页
• 分类号: TN41|TP33
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-373X.2007.03.048

摘要

在现代电子系统设备和可靠性增长工作的推动下,可靠性技术和工程实践得到了深入发展.结合工程实际经验,深入讨论了可靠性增长过程及实现途径.在保持试验条件和改进过程不变的条件下,实施了对具体型号电子产品的可靠性增长试验,达到了预期的可靠性增长目标,并且利用可靠性增长试验的数学模型(AMSAA模型)来评估产品的可靠性增长,对开展可靠性增长与可靠性增长试验工作具有重要的实际意义.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	苏小光	南京航空航天大学航空宇航学院	17	93	6.0	9.0
2	阳红成	南京航空航天大学航空宇航学院	2	14	2.0	2.0