LabVIEW在精密仪器控制中的应用

• 作者: 张黎 王亚丽 王铁流
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: 精密仪器 LabVIEW 数字万用表 传感器
• 年，卷（期）: 2007,（6）
• 所属期刊栏目: 传感器技术
• 页码范围: 60-62
• 页数: 3页
• 分类号: TP273
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-373X.2007.06.021

摘要

精密仪器操作相对复杂,使用不当容易造成设备灵敏度降低甚至损坏.采用LabVIEW可以轻松组建精密仪器测控系统并在PC机上构造自己的仪器界面.利用LabVIEW在精密仪器测量中的优势,以Agilent公司的高精度数字万用表 HP34401A为例对程控精密仪器测试系统的设计方法进行了研究,给出了一个红外光敏传感器温漂测试的实例.测试表明,利用LabVIEW组建的精密仪器测控系统可以简化操作步骤,有效避免误操作,确保仪器的测量精度.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王亚丽	曲阜师范大学物理工程学院	9	14	2.0	3.0
2	王铁流	北京工业大学电子信息与控制工程学院	44	363	10.0	17.0
3	张黎	北京工业大学耿丹学院	8	94	4.0	8.0