几何校正在微光瞄准仪检测系统中的应用

• 作者: 常本康 田思 邱亚峰 高有堂
• 来源期刊: 科技与创新
• 关键词: 几何畸变 变换与校正 微光瞄准 检测
• 年，卷（期）: 2007,（19）
• 所属期刊栏目: 传感器与仪器仪表
• 页码范围: 156-158
• 页数: 3页
• 分类号: TN247
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1008-0570.2007.19.064

摘要

多环境试验条件下微光瞄准镜检测技术一直是军备生产所关注的问题.由于振动、射击、冲击、跌落和高低温环境等载荷作用下,使微光瞄准镜机械、光学结构和电性能参数发生改变,导致微光瞄准镜不能正常工作和使用.设计了多环境试验条件下的微光瞄准镜检测与测试系统,给出了由CCD组成检测系统工作原理.对微光瞄准镜图像几何畸变进行分析,提出了几何变换与校正算法,确定其精确数值.结合实际工程应用,其测量精度≤0.05密位,测量范围≥40密位,达到项目要求.