智能测控与计算机整机的高温老化

• 作者: 秦然
• 来源期刊: 科技与创新
• 关键词: 神经元芯片 显式通讯 LON总线 智能测量节点
• 年，卷（期）: 2007,（26）
• 所属期刊栏目: 电子设计
• 页码范围: 307-308,73
• 页数: 3页
• 分类号: TP274+5
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1008-0570.2007.26.122

摘要

产品的质量决定着企业的未来命运.在计算机企业整机制造过程中,整机的高温老化是一个非常重要的环节.通过高温老化能提高计算机产品质量,增加企业的竞争力.由基于神经元芯片为测控节点、PCI总线的智能网络接口卡和LON总线组成智能网络测控系统,用于对老化过程中的环境温度、湿度、被老化计算机的运行工作状态等进行测量,并将测量结果通过网络传送给服务器,经服务器处理后的信号返回到控制设备.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	秦然	山东青年管理干部学院信息工程系	13	59	4.0	7.0