基于ARM芯片的嵌入式交叉调试系统

• 作者: 张欣 栾新
• 来源期刊: 科技与创新
• 关键词: 交叉调试 JTAG 内嵌在线仿真器 GDB调试器 远程串行调试通讯协议
• 年，卷（期）: 2007,（17）
• 所属期刊栏目: ARM开发与应用
• 页码范围: 128-130
• 页数: 3页
• 分类号: TP319
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1008-0570.2007.17.052

摘要

本文介绍了JTAG交叉调试技术和ARM芯片的片上调试构架,在此基础上给出了一种嵌入式交叉调试系统的设计及实现方法.该设计以GDB调试器作为人机调试界面,主机运行Linux操作系统(Windows操作系统需要安装Cwgiwin插件),目标机采用SamSung S3C4510B开发板.