基于USB接口的采集系统在镀膜中的应用

• 作者: 张鹏 李增 高世杰
• 来源期刊: 科技与创新
• 关键词: 通用串行总线 异步串行通讯 镀膜
• 年，卷（期）: 2007,（29）
• 所属期刊栏目: PLD CPLD FPGA应用
• 页码范围: 171-172,14
• 页数: 3页
• 分类号: TP302.1
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1008-0570.2007.29.070

摘要

在镀膜生产中,镀膜的厚度是镀膜质量的关键,利用自制的基于USB接口的数据采集系统成功实现了对镀膜反射率的计算,实验证明:该采集系统的采样频率为110K/S,采样精度为30.5μV.通过良好的人机交互界面,方便地控制镀膜时间,极大提高了生产效率.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	高世杰	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	37	245	8.0	14.0